MÁY ĐO ĐỘ DÀY LỚP PHỦ XRF – FT110A
- Dễ dàng vận hành
- Đo chính xác độ dày lớp phủ vàng (Au) từ 50 nm chỉ trong 10 giây
- Đo lường mà không cần mẫu chuẩn
- Dễ dàng định vị vị trí đo bằng Hệ thống Quan sát Góc rộng (Wide View System – tùy chọn)
MÔ TẢ
- Máy đo độ dày lớp phủ XRF FT110A được trang bị chức năng tự động lấy nét (Auto Focus) mới, cho phép tự động lấy nét vào mẫu và thu được hình ảnh quang học chỉ trong vài giây. Không cần điều chỉnh thủ công, giúp nâng cao năng suất và tăng thông lượng đo lường
ƯU ĐIỂM NỔI BẬT
- Dễ dàng vận hành
- Đo chính xác độ dày lớp phủ vàng (Au) từ 50 nm chỉ trong 10 giây
- Thực hiện phép đo mà không cần mẫu chuẩn
- Dễ dàng định vị vị trí đo nhờ Hệ thống Quan sát Góc rộng (Wide View System – tùy chọn)
THÔNG SỐ KỸ THUẬT VÀ ỨNG DỤNG
| Nguyên tố phân tích | Số nguyên tử từ 22 (Ti – Titan) đến 83 (Bi – Bitmut) |
| Ống phát tia X | Ống tia X kích thước nhỏ, làm mát bằng không khí |
| Điện áp | Ống tia X kích thước nhỏ, làm mát bằng không khí |
| Dòng điện | 1 mA |
| Đầu dò (Detector) | Bộ đếm tỷ lệ (Proportional Counter) |
| Bộ chuẩn trực (Collimator) | Dạng tròn 0,1 mm, 0,2 mm và hai loại khác |
| Quan sát mẫu | Camera SSD (tích hợp hệ thống quan sát góc rộng hai camera) |
| Lấy nét hình ảnh mẫu | Con trỏ laser với chức năng tự động lấy nét (Auto Focus) |
| Bộ lọc | Bộ lọc sơ cấp với chức năng chuyển đổi tự động (Automatic Switching) |
LIÊN HỆ
CÔNG TY TNHH QES VIỆT NAM
- Hotline: 0906 813 023
- Email: mailinh@qesnet.com
- VP Hà Nội: Tầng 27, tòa nhà Handico, KĐTM Mễ Trì Hạ, đường Phạm Hùng, Phường Yên Hòa, TP Hà Nội, Việt Nam
- VP HCM: 216-218 Quốc Lộ 13, Phường Hiệp Bình, TP Hồ Chí Minh, Việt Nam
