MÁY PHÂN TÍCH HUỲNH QUANG TIA X CẦM TAY (XRF) -- SCIAPS X-200
-
Dòng máy chủ lực (The Workhorse): Máy phân tích XRF X-200 là sự kết hợp hoàn hảo giữa hiệu suất cao và mức giá hấp dẫn, mang lại giá trị đầu tư tối ưu cho người dùng.
-
Các mẫu sử dụng đầu dò trôi silic (Silicon Drift Detector - SDD): Được định giá cạnh tranh để đáp ứng mọi yêu cầu về hiệu năng. Nền tảng này có trọng lượng khoảng 3,4 lb (1,54 kg), nặng hơn khoảng 0,5 lb (0,23 kg) so với nền tảng X-505/550, nhưng vẫn duy trì tốc độ phân tích và độ chính xác hàng đầu trong ngành.
-
X-250 là phiên bản kinh tế của X-550. Tương tự, X-200 là phiên bản kinh tế của X-505, chấp nhận giảm một phần tốc độ phân tích đối với các nguyên tố nhẹ như Mg (Magiê), Si (Silic), Al (Nhôm), P (Phốt pho) và S (Lưu huỳnh). Tuy nhiên, thiết bị vẫn đáp ứng hiệu quả hầu hết các nhu cầu phân tích vật liệu thông thường.
Categories: Analytical Instruments, Automotive & Metal, Environment, Handheld LIBS & XRF Analyser, Metal & Mining, SciAps
MÔ TẢ
X-200 mang lại tốc độ và hiệu suất phân tích tương đương hoặc vượt trội so với các thiết bị cao cấp khác. Với đầu dò SDD hiệu năng cao và cấu hình tia X được tối ưu, thiết bị cho kết quả nhanh và chính xác trên nhiều loại hợp kim, kể cả hợp kim nhôm. Nhờ thiết kế nhỏ gọn, trọng lượng nhẹ và khả năng phân tích vượt trội, X-200 là lựa chọn lý tưởng cho ngành phế liệu và kiểm tra không phá hủy (NDT).
Thiết bị hỗ trợ các bộ nguyên tố cho ứng dụng địa hóa, môi trường và thăm dò khoáng sản. SciAps Empirical App cho phép người dùng xây dựng mô hình hiệu chuẩn riêng. Thiết bị có thể hiệu chuẩn bằng Fundamental Parameters, Compton Normalization (EPA 6200) hoặc các mô hình thực nghiệm tùy chỉnh.
ỨNG DỤNG
-
Giá trị đầu tư tối ưu cho các ứng dụng phân loại nhôm hằng ngày, khi việc phân loại nhôm không phải là trọng tâm chính. Cần phép đo chùm tia thứ hai từ 8 - 10 giây để xác định Mg ở mức 0,8% trong nền nhôm. Cần thời gian đo chùm tia thứ hai từ 5 - 6 giây đối với các nguyên tố Al, Si, S và P.
-
Cần 15 - 20 giây để đo hàm lượng Mg từ 0,3 - 0,5% trong các mác hợp kim như 6063, 356 hoặc 3004.
-
Cung cấp độ chính xác, giới hạn phát hiện và dải nguyên tố phân tích tương đương các thương hiệu XRF hàng đầu khác, nhưng với thiết kế nhẹ hơn và mức giá cạnh tranh hơn.
-
Là lựa chọn có hiệu quả đầu tư cao cho các ứng dụng phân loại nhôm hằng ngày, khi việc phân loại nhôm không phải là trọng tâm chính.
-
Cần phép đo chùm tia thứ hai từ 10 - 20 giây để xác định Mg ở mức 0,8% trong nền nhôm.
-
Là giải pháp thay thế cho các thiết bị sử dụng đầu dò PIN nếu bạn cần tốc độ nhanh hơn gấp 9 lần hoặc độ chính xác cao hơn gấp 3 lần.
THÔNG SỐ KỸ THUẬT
-
Nguồn kích thích: 6 - 40 kV, 200 µA với anot Rh (Rhodium) cho các ứng dụng phân tích hợp kim; 6 - 50 kV, 200 µA với anot Au (Vàng) cho hầu hết các ứng dụng khác.
-
Đầu dò: Đầu dò trôi silic (SDD) diện tích hoạt động 20 mm², độ phân giải 135 eV FWHM tại vạch K-alpha của Mn 5,95 keV.
-
Bộ lọc tia X: Bánh xe lọc 6 vị trí để tối ưu hóa chùm tia.
-
Điện tử xử lý :
- Bộ xử lý chính: ARM Cortex-A9 lõi kép, tốc độ 1,2 GHz.
- Bộ nhớ: 1 GB DDR2 RAM, 1 GB NAND.
- Lưu trữ kết quả: Thẻ SD 8 GB.
Liên hệ QES ngay hôm nay để được tư vấn chi tiết và nhận báo giá tốt nhất cho máy phân tích XRF cầm tay SciAps X-200.
- Hotline: 0906 813 023 / 09673 02965
- Email: mailinh@qesnet.com
- Website: https://qesnet.vn/
- Vp Hà Nội : Tầng 27, tòa nhà Handico, KĐTM Mễ Trì Hạ, đường Phạm Hùng, Phường Yên Hòa, TP Hà Nội, Việt Nam
