Máy đo độ dày lớp phủ XRF FT230 để bàn

Máy đo độ dày lớp phủ XRF FT230 để bàn

Máy phân tích XRF để bàn FT230 đã được thiết kế để giảm đáng kể thời gian thực hiện phép đo. Nhận thấy rằng tốn nhiều thời gian nhất cho việc thiết lập mẫu và lựa chọn công thức đo lường, các kỹ sư tại Hitachi đã tạo ra một máy phân tích đột phá có thể tự “thiết lập” hiệu quả, giúp bạn có thể phân tích nhiều bộ phận khác trong một ca làm việc.

  • Tính Năng
  • Tài Liệu
  • demo

Tự động hóa và phần mềm cải tiến là những gì tạo nên máy phân tích FT230. Các mô-đun Nhận dạng Thông minh như Find My Part ™ có nghĩa là tất cả những gì người vận hành cần làm là tải mẫu, xác nhận bộ phận và FT230 sẽ lo phần còn lại. Nó sẽ tìm đúng vị trí đo từ phía bạn - ngay cả trên các chất nền lớn - chọn chương trình phân tích chính xác và gửi kết quả đến hệ thống chất lượng của bạn. Thời gian và lỗi của con người được giảm bớt, và bạn có thể thực hiện nhiều phân tích hơn trong thời gian ngắn hơn, giúp việc kiểm tra 100% trở nên thực tế hơn nhiều trong môi trường sản xuất bận rộn.

 

Mọi yếu tố của FT230 đều được thiết kế để giảm đáng kể thời gian phân tích.

- Lấy nét tự động giúp giảm thời gian tải mẫu
- Nhận dạng thông minh Find My Part ™ tự động thiết lập quy trình đo hoàn chỉnh
- Chế độ xem mẫu được trình bày trên một phần lớn của màn hình cho khả năng hiển thị tuyệt vời
- Chẩn đoán tự kiểm tra xác nhận sức khỏe và sự ổn định của thiết bị
- Tích hợp hoàn toàn với các phần mềm khác và dễ dàng xuất dữ liệu
- Trực quan và dễ sử dụng bởi những người không phải chuyên gia nhờ giao diện người dùng mới
- Mạnh mẽ để đo tối đa bốn lớp cùng một lúc cùng với chất nền
- Bền bỉ với thời gian sử dụng lâu dài trong môi trường sản xuất hoặc phòng thí nghiệm đầy thử thách
- Phù hợp với tiêu chuẩn ASTM B568 và DIN ISO 3497
- Giúp bạn đáp ứng các thông số kỹ thuật cho ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), ngâm Sn (IPC-4554) và ngâm Ag (IPC-4553A)

 

 

Thông số kỹ thuật:

Parameters

FT230 benchtop XRF analyzer

Element range

Al (13) - U (92)

Detector Silicon drift detector (SDD)
Chamber design Slotted or closed
XY stage design

Motorized or fixed

XY stage travel 250 x 200 mm
Motorized Z-axis travel 205 mm
Largest sample size 500 x 400 x 150 mm
Number of collimators

4

Focus laser

Included as standard

Automated focus Option

Wide-view camera

Option

Distance-independent measurement

Option

Find My Part™ smart recognition

Option

Coatings analysis

✔️

RoHS screening

✔️

Software

FT Connect
Zalo
hotline