Hệ thống XT H 450 mang đến nguồn có công suất cần thiết để đâm xuyên qua các mẫu có mật độ cao và tạo ra dữ liệu CT với
độ chính xác mức micron. Linh hồn của thiết bị là nguồn tia X mức micro công suất 450 kV, cung cấp độ phân giải xuất sắc và chính xác tại công suất 450 W trong khi vẫn giữ đủ công suất để đâm xuyên mẫu.
Nguồn 450 kV mức Micro
Nguồn độc quyền 450 kV là nguồn tia X mức micro duy nhất trên thế giới hoạt động ở mức năng lượng này, cho phép hệ thống XT H 450 đạt được độ chính xác và ổn định lên đến 25 micron. Tiêu điểm hệ Nikon nhỏ hơn tiêu điểm của nguồn mức mini trên thị trường mang đến độ chi tiết vượt trội so với các hệ khác. Với bia quay, tốc độ lấy dữ liệu chi tiết của 450kV có thể nhanh hơn 5 lần, hoặc chính xác hơn với cùng chu kỳ quét ngắn khi so sánh với bia tĩnh.
Công nghệ CLDA độc nhất
Khi tia X chạm vào vật, nó được hấp thụ nhưng cũng bị tán xạ, hiện tượng không mong muốn này làm tăng mật độ vật. Tán xạ đến từ tất cả các điểm của mẫu làm giảm mật độ tương phản lên cảm biến.
Nikon Metrology đã phát triển một CLDA độc quyền giúp tối ưu hóa chùm tia X đâm xuyên qua mẫu mà không chụp tia X tán xạ. Bằng cách tránh nhiễu ảnh và độ tương phản hỗ trợ, CLDA nhận ra độ tương phản và độ nét của hình ảnh. Dãy tuyến tính của đi-ốt ở dạng cong cho phép tăng cường chất
lượng hình ảnh bằng cách giữ độ dài hướng X-ray đến đi-ốt thu so với dãy đi-ốt dạng thẳng. Điều này cho phép các tinh thể dài hơn được dùng để tăng cường mật độ và cả thiện tỉ lệ tín hiện trên nhiễu và giảm thời gian quét.
Quan sát mẫu đúc
Nguồn lấy nét micro tại mức năng lượng này cần thiết để quan sát các mẫu công nghiệp dày một cách chính xác, ví dụ mẫu đúc lớn. XT H 450 3D là một hệ thống được thiết kế đi đầu trong việc quét mẫu lớn khi tán xạ không phải là một yếu cố cản trở. Ví dụ mẫu đúc lớn. XT H 450 3D là một hệ thống được thiết kế đi đầu trong việc quét mẫu lớn khi tán xạ không phải là một yếu cố cản trở. Ví dụ mẫu đúc lớn mật độ thấp.
Với các mẫu đúc có mật độ cao hơn mà có tán xạ, XT H 450 có thể dựng 3D
Quan sát lưỡi tua-bia
Nguồn 450 kV kết hợp với CLDA lý tưởng cho quan sát X-quang và CT cũng như đo đạc các lưỡi tua-bin từ nhỏ đến
trung bình. Hệ thống X-ray cung cấp nguồn X-ray đủ mạnh để đâm xuyên qua mẫu và tạo ra dữ liệu CT không tán xạ.
Trong môi trường sản xuất, hệ thống chạy lấy dữ liệu tự động,
quan sát và tái tạo CT ở tốc độ cao, xuất ra các trạng thái Pass/Fail cho các mẫu quan sát. Các nhà sản xuất lưỡi tua-bin có thể chạy quan sát CT đo lường chi tiết các lưỡi tua-bin (Ví đụ Đo Độ Dày Tường) để tối ưu hóa nhiên liệu cho động cơ máy bay.
Hệ thống CT thiết kế riêng
Khi không có hệ thống X-quang và CT có sẵn nào có thể đáp ứng nhu yêu cầu của cơ quan, tổ chức, Nikon Metrology có thể cấu hình riêng hệ thống CT với việc xây dựng lại Ca-bin hoặc thiết kế phòng riêng.
Những hệ thống này tùy chọn nhiều loại nguồn, nhiều cảm biến, điều hướng đặc biệt và sẽ được cấu hình để khớp với những ứng dụng khác nhau.
