Dễ sử dụng
Khi một mẫu được đặt trên sân khấu, hình ảnh quang học của mẫu sẽ tự động hiển thị.
Đo chính xác độ dày lớp phủ Au 50 nm trong 10 giây
Hình dạng hình học tối ưu cung cấp độ nhạy cao hơn ngay cả dưới chùm tia vi mô, cho phép đo độ chính xác cao hơn với ống chuẩn trực tròn 0,1 hoặc 0,2 mm.
Đo mẫu không cần mẫu chuẩn
Có thể thực hiện phép đo mà không cần (các) mẫu chuẩn độ dày bằng cách mở rộng phần mềm FP. Việc đo màng nhiều lớp và màng hợp kim có thể được thực hiện dễ dàng.
Dễ dàng định vị bằng hệ thống Wide view (lựa chọn)
Với Hệ thống nhìn rộng Wide view mới (tùy chọn), toàn bộ hình ảnh mẫu có thể được quan sát (kích thước tối đa 250x200 mm) và có thể chỉ định khu vực đo mong muốn.
Thông số kỹ thuật:
| Type | FT110A |
|---|---|
| Elements | Atomic Numbers 22(Ti) to 83(Bi) |
| X-ray source | Air-cooled small X-Ray Tube Voltage : 50 kV Current:1 mA |
| Detector | Proportional Counter |
| Collimator | Round. 0.1 mm, 0.2 and two other types |
| Sample Observation | CCD camera (with wide view system) |
| Sample image focus | Laser Pointer |
| Filter | Primary filter automatic switching |
| Sample Stage | [Stage size] 500(W)×400(D)×150(H) mm [Traveling] X : 250 mm, Y : 200 mm |
| Controller | Desktop Computer with 19 inch LCD Monitor |
| Application Software | Thin Film FP (All types of thin films: Max 5 layers,10 elements per layer), Calibration |
| Data Process | Microsoft Excel, Microsoft Word |
| Safety Functions | Sample door interlock, Sample crash prevention mechanism, Diagnostic Function |
